2010

ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o. - Kamerový systém na kontrolu založení a kvality waferu

Kamerový systém pro kontrolu založení waferu (křemíkové desky) v zařízení na vakuové nanášení vrstev. Kontrola vad waferu (praskliny, úlomky apod.). Jednoúčelové zařízení se speciálním nasvětlením a úhlovou kamerou pro vestavbu do existujících zařízení.

Realizace: divize Virtuální instrumentace